inTEST ATS-710E 高壓電力輸電芯片,儲(chǔ)能芯片的高低溫測(cè)試
應(yīng)用于工業(yè), 商業(yè), 住宅, 電力系統(tǒng)等多個(gè)領(lǐng)域的儲(chǔ)能能量管理系統(tǒng)（Energy Management System, 簡(jiǎn)稱(chēng) EMS）, 高壓輸電芯片和儲(chǔ)能芯片是承載電壓的重要器件之一, 需要在 -50 至 175℃ 進(jìn)行芯片高低溫性能和失效分析, 上海伯東美國(guó) inTEST ATS-710E 熱流儀憑借準(zhǔn)確,可靠和可重復(fù)的溫度測(cè)試特性, 成功應(yīng)用.

上海伯東 3kV 以下高壓輸電芯片和儲(chǔ)能芯片高低溫測(cè)試解決方案
inTEST ATS-710E 高低溫沖擊熱流儀搭配是德 Keysight B1506A 機(jī)臺(tái), 測(cè)試時(shí), 只需將待測(cè)芯片放置在 ATS-710E 測(cè)試罩內(nèi)即可進(jìn)行準(zhǔn)確. 可靠和可重復(fù)的溫度特性測(cè)試.
1. 冷熱沖擊測(cè)試（定溫沖擊測(cè)試, -40℃, -20℃…）
2. 快速冷熱沖擊測(cè)試（變溫沖擊測(cè)試, -40 至 150℃）
3. 高低溫循環(huán)測(cè)試（-50 至 175℃, 單次測(cè)試 1000次以上）


使用 inTEST 高低溫測(cè)試優(yōu)勢(shì)

1. 自動(dòng)溫度循環(huán)
2. 實(shí)時(shí)數(shù)據(jù)記錄
3. 動(dòng)態(tài) (DUT) 溫度控制
4. 本地和遠(yuǎn)程操作
5. 無(wú)霜測(cè)試環(huán)境
6. 節(jié)能模式
 

inTEST ThermoStream ATS-710E 技術(shù)參數(shù)

型號(hào)	溫度范圍 °C	輸出氣流量	變溫速率	溫度 精度	溫度顯示 分辨率	溫度 傳感器	遠(yuǎn)程 控制
ATS-710E	-75至+225 50Hz -80至+225 60Hz	4 至18 scfm 1.8至 8.5l/s	-55至 +125°C 約 10 s +125至 -55°C 約 10 s	±1℃	±0.1℃	T型或 K型 熱電偶	IEEE 488 R

 

上海伯東美國(guó) inTEST 熱測(cè)產(chǎn)品搭配 Keysight 機(jī)臺(tái), 可提供 IGBT, RF Device, MOSFET, Hi Power LED 等功率器件 -100℃ 至 350℃ 自動(dòng)化熱測(cè)試解決方案. Keysight 機(jī)臺(tái)兼容 inTEST 軟件, 操作簡(jiǎn)單.上海伯東美國(guó) inTEST 始終努力探索多樣的溫度控制應(yīng)用系統(tǒng), 以支持溫度測(cè)試行業(yè)的未來(lái)!

 

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